Intel nie wie, czy aktualizacja mikrokodu faktycznie naprawi stabilność Raptor Lake

Kilka dni temu Intel ogłosił, że podwyższone poziomy napięcia są główną przyczyną problemów z niestabilnością procesorów Raptor Lake. Aby rozwiązać ten problem, firma zapowiedziała aktualizację mikrokodu, która ma pojawić się w połowie sierpnia. Firma jednak podobno nie jest pewna, czy ta aktualizacja rozwiązuje problem całkowicie.

Według informacji pozyskanych prze Igora z Igor's Lab, podwyższone napięcia mogą nie być jedyną przyczyną problemów. Choć oficjalne oświadczenie Intela wskazuje na podwyższone napięcie robocze jako główny problem, firma przyznaje również, że trwają prace weryfikacyjne, aby upewnić się, że aktualizacja mikrokodu rozwiąże wszystkie aspekty problemu. Raport Igora podkreśla, że podwyższone napięcia powodują niestabilność Raptor Lake poprzez znaczny wzrost minimalnego napięcia roboczego (Vmin) na wielu rdzeniach. To niebezpieczne minimalne napięcie robocze wpływa na układ nawet w warunkach bezczynności.

Intel nie wie, czy planowana na połowę sierpnia aktualizacja mikrokodu w pełni naprawi problemy ze stabilnością procesorów Raptor Lake.

Aby rozwiązać ten problem, Intel planuje wprowadzić w aktualizacji mikrokodu ograniczenie żądań VID powyżej 1,55 V, co ma naprawić problemy związane z napięciem. Firma twierdzi, że zmiana ta nie wpłynie znacząco na wydajność procesorów. Jednak Intel przyznaje, że konieczna jest dalsza analiza, aby upewnić się, że aktualizacja mikrokodu z połowy sierpnia w pełni rozwiąże wszystkie problemy z niestabilnością, co wskazuje, że klienci będą w pewien sposób testerami, a sam Intel nie wie, czy oferowane lekarstwo będzie skuteczne.

Poniższe komunikaty, przekazane przez Igora, mają pochodzić bezpośrednio od Intela:

– Firma Intel obserwuje znaczny wzrost minimalnego napięcia roboczego (Vmin) w wielu rdzeniach zwróconych przez klientów wadliwych procesorów.
– Wzrost ten jest podobny do wyników części poddanych warunkom podwyższonego napięcia i temperatury w celu przeprowadzenia testów niezawodności.
– Czynniki przyczyniające się do wzrostu Vmin obejmują podwyższone napięcie, wysoką częstotliwość i podwyższoną temperaturę.
– Nawet w warunkach bezczynności przy stosunkowo niskich temperaturach sporadycznie obserwuje się podwyższone napięcia, gdy procesor jest wybudzany ze stanu niskiego poboru mocy w celu obsługi operacji w tle przed ponownym przejściem w stan niskiego poboru mocy.
– Przy wystarczająco wysokim napięciu te krótkotrwałe zdarzenia mogą się z czasem kumulować, przyczyniając się do wzrostu Vmin.
– Analiza firmy Intel wskazuje na potrzebę obniżenia maksymalnego napięcia żądanego przez procesor w celu zmniejszenia lub wyeliminowania skumulowanej ekspozycji na napięcia, które mogą skutkować wzrostem Vmin.
–  Chociaż firma Intel potwierdziła, że ​​podwyższone napięcia mają wpływ na wzrost Vmin, trwają badania w celu pełnego zrozumienia przyczyny źródłowej i zajęcia się innymi potencjalnymi aspektami tego problemu.
––Intel—