Testował RAM, a usmażył procesor. Ryzen 7 9800X3D z fizycznymi uszkodzeniami

Entuzjasta posługujący się pseudonimem Real_Ad5580 przeprowadził eksperyment, podczas którego Ryzen 7 9800X3D uległ awarii po kilkunastu godzinach intensywnego testowania pamięci RAM. Oględziny procesora ujawniły, że fizycznie uszkodziły się pola stykowe procesora.

Autor przetestował hipotezę, że sygnał RTT WR i parametry Proc DQ Drive Strength mogą powodować degradację układu I/O oraz pól stykowych pod ciągłym, intensywnym obciążeniem. Podejrzewał, że określone warunki elektryczne podczas długotrwałych operacji zapisu mogą przyczyniać się do degradacji elementów odpowiedzialnych za komunikację z pamięcią. Aby potwierdzić tę teorię, stworzono specjalistyczny test obciążeniowy pamięci, który stale wysyłał polecenia zapisu z procesora do pamięci RAM przy standardowych, bezpiecznych napięciach.

Po 16 godzinach ciągłej pracy, platforma testowa z procesorem AMD Ryzen 7 9800X3D niespodziewanie się wyłączyła, zapalając czerwoną diodę LED błędu. Kolejne próby uruchomienia platformy kończyły się awarią po około czterech, a następnie dwóch godzinach.

Unique (about to die) 9800X3D sample - physical and highly localized damage to DQ lines
by u/Real_Ad5580 in radeon

Na procesorze znaleziono ślady fizycznych uszkodzeń

Po wyjęciu procesora okazało się, że uszkodzeniu uległy fizyczne pola stykowe podłoża w obszarach odpowiedzialnych za dwukierunkowe operacje odczytu i zapisu na magistrali danych. Najbardziej zauważalny defekt stwierdzono na styku AW29 (MBB_Data 20), gdzie warstwa bazowa podłoża uległa niemal całkowitemu wypaleniu, tworząc charakterystyczny ciemny ślad. Dodatkowo, zmiany termiczne i fizyczne dotknęły pola F31 (MBB_Data 12), styków masy VSS (L31, E27, AT29, AW27), a także punktów AP29 (Test 47_2) i AP31 (Test_CCD0). Zaobserwowany wzór uszkodzeń potwierdza hipotezę badacza o kluczowej roli naprężeń elektrycznych na liniach DQ podczas długotrwałych operacji zapisu danych.

Na tym etapie nie ma podstaw, by uznać, że testy pamięci RAM regularnie niszczą procesory Ryzen 7 9800X3D lub inne układy z rodziny Ryzen 9000X3D. Opis dotyczy pojedynczego egzemplarza, a przyczyna awarii nie została niezależnie potwierdzona.

Specyfiką badanego egzemplarza jest jego zdolność do rozruchu i załadowania systemu operacyjnego pomimo rozległych uszkodzeń warstwy przewodzącej padów. Autor eksperymentu skontaktował się ze specjalistycznymi laboratoriami technicznymi, w tym z zespołem Gamers Nexus, i zwrócił się z otwartym zapytaniem do inżynierów dysponujących sprzętem mikroskopowym i pomiarowym o dogłębną analizę struktury. Uzyskane dane mogą stanowić ważną praktyczną podstawę do identyfikacji rzeczywistych przyczyn degradacji krzemu w układach Ryzen 9000X3D podczas normalnej pracy bez ekstremalnego podkręcania napięcia.