Mit o pamięci flash właśnie upadł? Sześć lat bez zasilania i żadnej utraty danych

Rozmowy, a czasem nawet i kłótnie na temat niezawodności różnych technologii przechowywania danych trwają od lat. Zwolennicy klasycznych dysków talerzowych wskazywali na jeden argument przemawiający za tą technologią. Według tej tezy pamięć flash miała stopniowo tracić zapisane informacje po dłuższym okresie odłączenia od zasilania.

Dotyczyło to zarówno dysków SSD, jak i pamięci USB. W środowisku technologicznym utrwaliło się przekonanie, że komórki pamięci NAND tracą ładunek elektryczny i po kilku miesiącach zaczynają pojawiać się błędy w zapisanych danych. Eksperyment prowadzony przez jednego z użytkowników społeczności technologicznej wskazuje na inny scenariusz. Test trwający sześć lat pokazuje, że dane zapisane na pamięci flash mogą przetrwać znacznie dłużej niż zakładano.

Sześcioletni test pamięci flash

Eksperyment został przeprowadzony przez użytkownika Reddita Zachary’ego Vance’a. Test rozpoczął się na początku 2020 roku w okresie pandemii COVID-19. Vance kupił kilkanaście pamięci USB Kingston DataTraveler SE9 o pojemności 32 GB. Były to stosunkowo proste nośniki działające w standardzie USB 2.0. Na każdym z nich zapisano komplet losowych danych przy użyciu bezpośredniego zapisu blokowego. Po zakończeniu operacji urządzenia zostały odłączone od komputerów i odłożone do przechowywania.

Autor eksperymentu zaplanował testy odczytu w różnych odstępach czasu. Pierwszy pendrive został sprawdzony po roku, kolejne po dwóch, trzech oraz czterech latach.

Dane przetrwały bez błędów

W 2026 roku przyszła pora na kolejny etap eksperymentu. Jeden z nośników pozostawał odłączony od zasilania przez sześć lat. Test polegał na pełnym odczycie zapisanych wcześniej danych oraz porównaniu ich z oryginalną kopią kontrolną. Procedura miała wykryć nawet pojedyncze zmiany w zapisanych bitach. Wynik okazał się zaskakujący. Pendrive nie wykazał żadnych błędów odczytu. Dane zachowały pełną integralność mimo wieloletniego przechowywania bez zasilania. Autor eksperymentu przeprowadził także dodatkowy test zapisu. Nośnik został całkowicie wyczyszczony, a następnie ponownie zapisany losowymi danymi. Operacja zakończyła się bez problemów.

Długoterminowy eksperyment trwa dalej

Test nie zakończył się na sześciu latach. Vance planuje kolejne etapy sprawdzania nośników. Następne odczyty mają odbyć się po ośmiu, jedenastu, piętnastu, dwudziestu oraz dwudziestu siedmiu latach od rozpoczęcia eksperymentu. Projekt ma w przyszłości dostarczyć rzadkich danych dotyczących długoterminowego przechowywania informacji na konsumenckich nośnikach pamięci flash.

Ograniczenia eksperymentu

Choć wyniki testu wzbudziły zainteresowanie w środowisku technologicznym, eksperyment nie ma charakteru pełnego badania naukowego. Wszystkie użyte pendrive’y pochodziły z jednej serii produkcyjnej. Istnieje prawdopodobieństwo, że zostały wyprodukowane w tej samej partii. Nośniki były przechowywane w jednym miejscu i w podobnych warunkach temperaturowych. Brak zróżnicowania środowiska przechowywania utrudnia wyciąganie szerszych wniosków dotyczących całej technologii pamięci flash. Mimo tych ograniczeń wyniki są interesujące i warte dalszej obserwacji, a kolejne sprawdzenie danych już za 2 lata.

Inny eksperyment daje mniej optymistyczne wyniki

Inny użytkownik Reddita o pseudonimie Carnildo przeprowadził krótszy test dotyczący dysków SSD. W eksperymencie wykorzystano trzy używane nośniki różnych producentów, między innymi marki PNY oraz Lexar. Jeden z dysków pozostawał odłączony od zasilania przez rok w pomieszczeniu o standardowej temperaturze. Drugi był przechowywany na nieogrzewanym strychu, gdzie zimą panowały ujemne temperatury. Trzeci był okresowo podłączany do komputera.

Po roku test wykazał oznaki uszkodzeń danych na wszystkich trzech nośnikach. Najwięcej błędów pojawiło się w przypadku dysku pozostającego bez zasilania przez cały czas. Najmniej problemów odnotowano na urządzeniu, które było regularnie uruchamiane.

Temperatura i jakość pamięci

Analiza obu eksperymentów wskazuje na kilka czynników wpływających na trwałość danych w pamięci flash. Kluczową rolę odgrywa jakość układów pamięci oraz warunki przechowywania. W branży półprzewodników stosowany jest standard JEDEC JESD47 opisujący testy trwałości układów pamięci flash. Procedury obejmują symulację wieloletniej pracy w temperaturze 55 stopni Celsjusza.

Standardy tego typu funkcjonują głównie w relacjach między producentami komponentów a producentami sprzętu. W przypadku tanich nośników konsumenckich poziom testowania bywa bardzo zróżnicowany.

Przez lata jednym z najważniejszych argumentów przemawiających za tradycyjnymi dyskami talerzowymi była możliwość długotrwałego przechowywania danych bez zasilania. Dyski SSD mają ogromną przewagę w wydajności, ale potrzeba wielu niezależnych testów, żeby faktycznie zacząć mówić o porównywalnej trwałości przechowywanych danych.