Test ASUS ROG CROSSHAIR X670E EXTREME. Płyta główna z OLED-em!

Warunki testu temperatur ROG CROSSHAIR X670E EXTREME

Na potrzeby testów temperatur pomocniczo wykorzystuję pirometr Voltcraft IR 800-20D, o zakresie pomiarowym od -50 do 800 °C. W każdym przypadku wykonywane są maksymalnie dwa pomiary, tzn. jeden dla wbudowanego czujnika (o ile takowy istnieje), zaś drugi na rewersie laminatu – w okolicy MOSFET-ów, z użyciem wspomnianego urządzenia. W tym drugim przypadku za każdym razem staram się odnaleźć możliwie gorący punkt i to on ląduje na wykresach. Testy przeprowadzane są przy procesorze przetaktowanym do 5,5/2,2 GHz (lub mniej, jeżeli któraś z płyt będzie niedomagać), czemu towarzyszy woltaż rdzeni równy 1,325 V. Obciążenie generowane jest przez 30-minutowy rendering sceny Barbershop w aplikacji Blender.

Rewers laminatu płyty głównej

Wbudowany czujnik

SSD M.2 NVMe