Test płyt głównych GIGABYTE AORUS X299 Gaming 3 oraz AORUS X299 Gaming 9

Test płyt głównych GIGABYTE AORUS X299 Gaming 3 oraz AORUS X299 Gaming 9

Maksymalny stabilny zegar CPU

Maksymalny niestabilny zegar CPU

Obie płyty GIGABYTE uzyskały tutaj dobre wyniki, które jednak mogłyby być jeszcze lepsze, gdyby nie problemy z regulacją napięć. Mianowicie działa tutaj jakieś dziwne zabezpieczenie, które uniemożliwia przekroczenie 1,25 V na rdzeniach. Rzecz jasna nie ma problemów z zaaplikowaniem w UEFI większych wartości, ale po wejściu do systemu operacyjnego woltaż zostaje zredukowany do wspomnianego wcześniej poziomu. Co ciekawe, w firmware dostępne są opcje związane z OCP i OVP, ale ich zmiana nie powoduje jakiejkolwiek poprawy, o czym zresztą pisałem w teście Core i7-7740X. W momencie przeprowadzania testów jedynym sposobem na (częściowe) obejście tej niedogodności było skorzystanie z offsetu, ale wtedy pojawiał się inny problem, którym było przedziwnie działające LLC, które powodowało bardzo duże podbicie napięcia przy przejściu z lekkiego do maksymalnego obciążenia. Nawet ustawienie wspomnianego parametru na najniższą wartość skutkowało różnicą na poziomie 0,04-0,05 V, a to trochę za dużo. Tak czy inaczej, w tym aspekcie konieczna będzie poprawka.

Obserwuj nas w Google News

Pokaż / Dodaj komentarze do: Test płyt głównych GIGABYTE AORUS X299 Gaming 3 oraz AORUS X299 Gaming 9

 0