Test płyt głównych GIGABYTE X570 AORUS MASTER oraz MSI MEG X570 ACE

Test płyt głównych GIGABYTE X570 AORUS MASTER oraz MSI MEG X570 ACE

Test płyt głównych X570: wydajność kontrolerów

Kolejnym obszarem testów są porty USB 3.0 (według aktualnej nomenklatury powinniśmy pisać USB 3.2 Gen1). Podobnie jak na poprzedniej stronie, pomiary odbywają się z użyciem popularnego programu CrystalDiskMark, często wykorzystywanego do porównywania wydajności różnych dysków twardych. Testy obejmują zarówno odczyt i zapis sekwencyjny, jak i analogiczne wartości dla próbki rozmiaru 4K - w obu przypadkach w wariancie standardowym oraz Q32T1 (32 kolejki, pojedynczy wątek). Z kolei używany nośnik to Silicon Power Velox V70 o pojemności 240 GB, podłączony z wykorzystaniem przejściówki Seagate FreeAgent GoFlex. Ta ostatnia co prawda limituje maksymalny transfer do poziomu odpowiadającego SATA 3 Gb/s, ale i tak możemy w ten sposób zweryfikować poprawność funkcjonowania testowanego standardu na poszczególnych płytach.

Seq Q32T1 Read

Seq Q32T1 Write

4K Q32T1 Read

4K Q32T1 Write

Seq Read

Seq Write

4K Read

4K Write

Obserwuj nas w Google News

Pokaż / Dodaj komentarze do: Test płyt głównych GIGABYTE X570 AORUS MASTER oraz MSI MEG X570 ACE

 0