Płyta jak marzenie! Test GIGABYTE Z790 AORUS MASTER X

Płyta jak marzenie! Test GIGABYTE Z790 AORUS MASTER X

Test GIGABYTE Z790 AORUS MASTER X: osiągi kontrolerów

Weryfikację osiągów kontrolerów rozpoczynamy od portów SATA 6 Gb/s. Pomiary odbywają się z wykorzystaniem popularnego programu CrystalDiskMark, często używanego do porównywania wydajności dysków. Testy obejmują odczyt sekwencyjny oraz dla próbki rozmiaru 4K - dla różnych wariantów kolejek i wątków. Nośnik używany w tej grupie pomiarów to Silicon Power Velox V70 o pojemności 240 GB (MLC Intel 25 nm).

Obserwuj nas w Google News

Pokaż / Dodaj komentarze do: Płyta jak marzenie! Test GIGABYTE Z790 AORUS MASTER X

 0
Kolejny proponowany artykuł
Kolejny proponowany artykuł
Kolejny proponowany artykuł
Kolejny proponowany artykuł