Test płyty głównej ASRock B550 Taichi Razer Edition. Sprawdzona konstrukcja w odświeżonym wydaniu

Test płyty głównej ASRock B550 Taichi Razer Edition. Sprawdzona konstrukcja w odświeżonym wydaniu

Warunki testu temperatur ASRock B550 Taichi Razer Edition

Na potrzeby testów temperatur pomocniczo wykorzystuję pirometr Voltcraft IR 800-20D, o zakresie pomiarowym od -50 do 800 °C. W każdym przypadku wykonywane są maksymalnie dwa pomiary, tzn. jeden dla wbudowanego czujnika (o ile takowy istnieje), zaś drugi na rewersie laminatu w okolicy MOSFET-ów, z użyciem wspomnianego urządzenia. W tym drugim przypadku za każdym razem staram się odnaleźć możliwie gorący punkt i to on ląduje na wykresach. Wszystkie testy przeprowadzane są przy procesorze przetaktowanym do 4,2 GHz (lub mniej, jeśli któraś płyta będzie niedomagać), czemu towarzyszy woltaż wynoszący 1,35 V. Obciążenie generowane jest przez 15-minutowy przebieg testu LinX w wersji 0.6.4 i dokładnie po tym czasie zabieram się do pomiarów.

Rewers laminatu płyty głównej

Wbudowany czujnik

Pokaż / Dodaj komentarze do: Test płyty głównej ASRock B550 Taichi Razer Edition. Sprawdzona konstrukcja w odświeżonym wydaniu

 0