Test płyty głównej GIGABYTE TRX40 AORUS MASTER. Nieco tańsza odmiana sTRX4

Warunki testu temperatur GIGABYTE TRX40 AORUS MASTER

Na potrzeby testów temperatur pomocniczo wykorzystuję pirometr Voltcraft IR 800-20D, charakteryzujący się zakresem pomiarowym na poziomie od -50 do 800 °C. W każdym przypadku wykonywane są maksymalnie dwa pomiary - jeden dla wbudowanego czujnika (o ile takowy istnieje), drugi zaś na rewersie laminatu w okolicy MOSFET-ów, z użyciem wspomnianego urządzenia. W tym drugim przypadku za każdym razem staram się odnaleźć możliwie gorący punkt i to on ląduje na wykresach. Wszystkie testy przeprowadzane są zarówno przy procesorze pracującym z parametrami fabrycznymi, jak i podkręconym do 4,25 GHz (lub mniej, jeśli któraś płyta będzie niedomagać), przy napięciu ustawionym na 1,35 V. Obciążenie generowane jest przez 15-minutowy przebieg testu LinX w wersji 0.6.4 i dokładnie po tym czasie zabieram się do pomiarów.

Uwaga: Dla płyt głównych ASUS ROG Zenith II Extreme oraz GIGABYTE TRX40 AORUS MASTER pomiar z użyciem pirometru nie jest do końca reprezentatywny, z uwagi na płytkę usztywniającą (ang. backplate), która skutecznie ogranicza obszar, w którym można wyszukiwać najwyższej temperatury. Warto więc mieć ten fakt na uwadze i pamiętać, że w rzeczywistości warunki termiczne są nieco gorsze niż to, co zobaczycie na wykresie.

Rewers laminatu płyty głównej

Wbudowany czujnik